2025高端儀器創(chuàng)新發(fā)展論壇在京舉辦
在各方積極推動(dòng)下，我國(guó)儀器儀表產(chǎn)業(yè)發(fā)展取[詳情]華為技術(shù)人員和我司溝通采購(gòu)介電常數(shù)采購(gòu)項(xiàng)目，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)達(dá)2個(gè)月的溝通終于確定了下來(lái)
LJD低頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、LJD型介電常數(shù)測(cè)試主機(jī)、組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。
一 本設(shè)備適用標(biāo)準(zhǔn)
1 GBT 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法
3 ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法
