2023年4月20-21日，“2023中國光谷九峰山論壇暨化合物半導體產(chǎn)業(yè)大會”在武漢光谷開幕。此次大會以“攀峰聚智、芯動未來”為主題，共設置了5大主題平行論壇，70多場主題報告，分別聚焦半導體核心裝備及零部件、光電子器件及集成技術、功率電子器件及應用等幾大重點方向，并設置企業(yè)參展區(qū)，深入探討產(chǎn)業(yè)鏈相關重點技術發(fā)展進展與前沿趨勢，傳遞信息。

玖錦科技作為半導體測試產(chǎn)業(yè)鏈的核心儀表供應商，受邀參展向行業(yè)專家、企業(yè)客戶分享了如何利用玖錦科技發(fā)布的墨子、孔明系列儀器“射頻三大件”對半導體器件進行動態(tài)參數(shù)測試，幫助行業(yè)客戶解決測試難點，提高測試的效率和可靠性。

隨著國內(nèi)芯片需求擴大和第三代半導體技術的蓬勃發(fā)展，芯片的高頻、超寬帶、高線性等性能要求逐漸提高，尤其在芯片設計環(huán)節(jié)，準確的測試數(shù)據(jù)是突破上述技術的瓶頸問題之一。玖錦科技聯(lián)合探針臺友商推出了基于50 GHz矢量網(wǎng)絡分析儀VNA5000A與8寸綜合型探針臺T-200搭建的射頻微波芯片測試系統(tǒng)，為半導體行業(yè)提供了整體測試解決方案，適用于各種有源/無源射頻微波晶圓及芯片的測試。

系統(tǒng)特點

√ Bias Tee功能，從射頻端口直接提供直流配置；

√ 在片校準技術，提取探針的特征參數(shù)，將測量端面從同軸轉移到探針，保證測試準確性；

√ 可根據(jù)客戶需求快速進行二次開發(fā)；

√ 一鍵式自動測試、數(shù)據(jù)存儲、分析、展示；

√ 自動調(diào)用、保存、導出、導入校準結果；

√ 一次連接/擺放，完成多個被測件的測試；

√ 支持多路測試和芯片分類篩選。

本次展會上，玖錦科技展區(qū)前人頭攢動，前來的客戶接踵而至，他們現(xiàn)場初步了解射頻微波芯片測試系統(tǒng)的產(chǎn)品特點，為后續(xù)合作奠定良好基礎。

芯片更新迭代的速度越來越快，功能越來越復雜，這就需要更高的測試可靠性和更少的測試時間來快速推出產(chǎn)品。玖錦科技作為行業(yè)新一線電子測試測量行業(yè)技術品牌，10年如一日的產(chǎn)業(yè)布局，以及持續(xù)加碼的研發(fā)投入，讓玖錦科技擁有著同類企業(yè)的技術、市場以及質(zhì)量優(yōu)勢。

未來，玖錦科技將依托多年的技術積累，持續(xù)精進電子測試測量儀器儀表及解決方案，在雙碳政策戰(zhàn)略背景下，助推中國半導體企業(yè)前進，為中國半導體行業(yè)持續(xù)穩(wěn)定健康發(fā)展創(chuàng)造無限可能！