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產(chǎn)品名稱
恒溫恒濕試驗(yàn)箱
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
高頻振動試驗(yàn)臺
加速度沖擊實(shí)驗(yàn)
氙燈老化試驗(yàn)箱
PCT老化試驗(yàn)機(jī)

內(nèi)箱尺寸
40*50*40cm
50*60*50cm
60*75*50cm
60*85*80cm
100*100*80cm
即可按客戶要求訂制

性能溫/濕度范圍
〖溫度〗-40~+150度
〖濕度〗20%~98%RH
〖溫度波動度〗±0.5度
〖濕度波動度〗±1%RH
〖升溫時(shí)間〗-40~+150度小于70分鐘
〖降溫時(shí)間〗+20~-40度小于60分鐘;

以上系列產(chǎn)品為人工模擬海洋性氣候的鹽霧腐蝕試驗(yàn)設(shè)備，可對電工設(shè)備、金屬材料、制品各種材質(zhì)之表面，經(jīng)油漆、涂料、電鍍、無機(jī)及有機(jī)皮膜、極處理、防銹油等防蝕處理后，測試其制品耐腐蝕性。進(jìn)行加速腐蝕性能變化試驗(yàn)。也是人工氣侯環(huán)境“三防”（濕熱、鹽霧、霉菌）試驗(yàn)設(shè)備之一，是研究機(jī)械、國防工業(yè)、輕工電子、儀器儀表、五金、電鍍、電子、化工、汽車、航天、通訊等行業(yè)等行業(yè)各種環(huán)境適應(yīng)和可靠性的一種重要試驗(yàn)設(shè)備,同時(shí)也可做醋酸銅試驗(yàn).。以便對試品在特定的環(huán)境條件下的性能作出分析及評價(jià)。

電子、電工針對步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室、振動標(biāo)準(zhǔn)參考：
一、GB/T2423有以下51個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成：

1GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫

2GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫

3GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

4GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法

5GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊

6GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞

7GB/T2423.7-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）

8GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落

9GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱

10GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動（正弦）

11GB/T2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動--一般要求

12GB/T2423.12-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fda:寬頻帶隨機(jī)振動--高再現(xiàn)性

13GB/T2423.13-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動中再現(xiàn)性

14GB/T2423.14-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動低再現(xiàn)性

15GB/T2423.15-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度

16GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長霉

17GB/T2423.17-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法

18GB/T2423.18-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)--試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變（氯化鈉溶液）

19GB/T2423.19-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法

20GB/T2423.20-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法

21GB/T2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法

22GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化

23GB/T2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q:密封

24GB/T2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射

25GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)

26GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)

27GB/T2423.27-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法

28GB/T2423.28-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法

29GB/T2423.29-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度

30GB/T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

31GB/T2423.31-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法

32GB/T2423.32-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法

33GB/T2423.33-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法

34GB/T2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法

35GB/T2423.35-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗(yàn)方法

36GB/T2423.36-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗(yàn)方法

37GB/T2423.37-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)L:砂塵試驗(yàn)方法

38GB/T2423.38-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法

39GB/T2423.39-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ee:彈跳試驗(yàn)方法

40GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

41GB/T2423.41-1994電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法

42GB/T2423.42-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗(yàn)方法

43GB/T2423.43-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（Fc和Fb）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ca）等動力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則

44GB/T2423.44-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eg:撞擊彈簧錘

45GB/T2423.45-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序

46GB/T2423.46-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ef：撞擊擺錘

47GB/T2423.47-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fg:聲振

48GB/T2423.48-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ff:振動--時(shí)間歷程法

49GB/T2423.49-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe:振動--正弦拍頻法

50GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)

51GB/T2423.51-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke:流動混合氣體腐蝕試驗(yàn)

二、GB2421-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則

三、GB/T2422-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語

四、GB2424

1.GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

2.GB/T2424.2-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則

3.GB/T2424.9-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程長霉試驗(yàn)導(dǎo)則

4.GB/T2424.10-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則

5.GB/T2424.11-82電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和鏈接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則

6.GB/T2424.12-82電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則

7.GB/T2424.13-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

8.GB/T2424.14-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則

9.GB/T2424.15-92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

10.GB/T2424.17-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則

11.GB/T2424.18-82電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程在清洗濟(jì)中浸漬試驗(yàn)導(dǎo)則

12.GB/T2424.19-84電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程模擬儲存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則

13.GB/T2424.20-85電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則

14.GB/T2424.21-85電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則

15.GB/T2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

16.GB/T2424.23-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程水試驗(yàn)導(dǎo)則

17.GB/T2424.24-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

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電子、電工針對步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室、振動標(biāo)準(zhǔn)參考

電子、電工針對步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室、振動標(biāo)準(zhǔn)參考