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儀表網(wǎng) 儀表標準】根據(jù)國家市場監(jiān)督管理總局計量司國家計量技術規(guī)范制修訂計劃安排,全國新材料與納米計量技術委員會已完成了《計量型塊體熱電材料塞貝克系數(shù)測量裝置校準規(guī)范》國家計量技術規(guī)范的征求意見稿。為了使國家計量技術規(guī)范能廣泛適用和更具可操作性,特向全國有關單位征求意見。
熱電材料作為一種新型的清潔能源材料,因其具有將熱能和電能直接相互轉(zhuǎn)化的特性,被廣泛應用于溫差發(fā)電和制冷領域。據(jù)統(tǒng)計,國內(nèi)熱電材料和器件產(chǎn)量居世界首位,產(chǎn)業(yè)年產(chǎn)值超10億元,并且呈快速發(fā)展趨勢,市場需求日益增大。塞貝克系數(shù)是評價熱電材料性能的關鍵參數(shù),由于
測量儀器和方法的差異,塞貝克系數(shù)的測量結(jié)果相差較大,為了使不同廠家生產(chǎn)的儀器測試數(shù)據(jù)準確可比,儀器在使用前或者進行期間核查時需要進行校準。國外,塞貝克系數(shù)測量儀器的生產(chǎn)國家主要包括日本,德國和美國等。國內(nèi),相關儀器的生產(chǎn)制造相關企業(yè)20余家。據(jù)統(tǒng)計,國內(nèi)的塞貝克系數(shù)測量儀器保有量超300臺,此外還存在較多的自搭建測量儀器。國家質(zhì)量基礎的共性技術研究與應用(NQI)專項課題“微納米尺度薄膜材料結(jié)構和熱電參數(shù)計量技術研究”(2017YFF0204706)已對熱電材料塞貝克系數(shù)的溯源性和標準物質(zhì)進行了研究,將為儀器的校準提供保障。
目前,我國在熱電材料塞貝克系數(shù)計量方面相對薄弱,計量規(guī)范空白,塞貝克系數(shù)的準確測量和儀器的溯源特性成為熱電科研和產(chǎn)業(yè)領域迫切需要解決的問題,以實現(xiàn)測量結(jié)果的準確性、可比性和一致性。目前,國內(nèi)外尚無相關測試標準,企業(yè)生產(chǎn)缺乏有效規(guī)范和指導,制定塞貝克系數(shù)測量儀的國家校準規(guī)范刻不容緩。
計量型塊體熱電材料塞貝克系數(shù)測量裝置校準規(guī)范的制定,將用于計量標準裝置的建立,為標準物質(zhì)定值及塞貝克系數(shù)的準確測量提供量傳服務,將促進產(chǎn)業(yè)發(fā)展,提高產(chǎn)業(yè)國際競爭力,具有良好的社會效益、經(jīng)濟效益和推廣應用前景。
本方法在制定過程中,參照JJF 1001-2012《通用計量術語及定義》、JJF1059-2012《測量不確定度評定與表示》、JJF 1071-2010 《國家計量校準規(guī)范編寫規(guī)則》要求進行編寫制定。本規(guī)范引用下列文獻:GB/T 6147-2005 精密電阻合金熱電動勢率測試方法;GB/T 4993-2010 鎳鉻-銅鎳(康銅)熱電偶絲;GB/T 16839.1-2018 熱電偶 第1部分:電動勢規(guī)范和允差。
依據(jù)JJF 1071-2010 《國家計量校準規(guī)范編寫規(guī)則》,本規(guī)范在架構上包括:適用范圍;引用文獻;術語;概述;計量特性;測量條件;校準條件;校準方法;校準結(jié)果表達;復校時間間隔以及附錄等內(nèi)容。
計量特性:
塞貝克系數(shù)測量重復性,以標準偏差表示,不大于1.0 μV/K。平均溫度測量重復性,以標準偏差表示,不大于1.0 K。
測量條件:
測量環(huán)境條件。環(huán)境溫度22 oC±2 oC,溫度波動不超過±2 oC。相對濕度≤ 60%RH。
測量次數(shù)。重復測量12次。
校準環(huán)境條件:
按照鎳鉻-鎳鋁熱電偶(K型)和同步數(shù)據(jù)采集卡的校準要求,對其進行校準。
校準用標準器:
校準主要使用的標準器見下表。
校準方法:
對冷端溫度T1、熱端溫度T2和塞貝克電壓?V的測量值分別進行校準,最終計算得到塞貝克系數(shù)標準值S和平均溫度T標準值。重復測量12次,計算得到塞貝克系數(shù)標準值測量重復性和平均溫度標準值測量重復性。
校準結(jié)果的處理:
校準證書內(nèi)頁推薦格式參見附錄D,校準證書應至少包括以下內(nèi)容:a)標題:“校準證書”;b)實驗室名稱和地址;c)進行校準的地點(如果與實驗室的地址不同);d)校準證書的唯一性標識(如編號),每頁及總頁數(shù)的標識;e)客戶的名稱和地址;f)被校儀器的描述和明確標識(如型號、產(chǎn)品編號等);g)進行校準的日期,如果與校準結(jié)果的有效性和應用有關時,應說明被校對象的可接收日期;h)如果與校準結(jié)果的有效性應用有關時,應對被校樣品的抽樣程序進行說明;i)校準所依據(jù)的技術規(guī)范的標識,包括名稱及代號;j)本次校準所用測量標準的溯源性及有效性說明;k)測量環(huán)境的描述;l)校準結(jié)果及其測量不確定度的說明;m)對校準規(guī)范的偏離的說明;n)校準證書或校準報告簽發(fā)人的簽名、職務或等效標識;o)校準結(jié)果僅對被校對象有效的聲明;p)未經(jīng)實驗室書面批準,不得部分復制證書的聲明。
復校時間間隔:
復校時間間隔由使用者根據(jù)儀器使用情況、儀器本身性能等因素自行決定,推薦復校時間間隔不超過1年。
本規(guī)范適用于計量型塊體熱電材料(不含熱電偶)塞貝克系數(shù)測量裝置的校準,測量溫度范圍295 K~386 K。 (更多詳情請見附件)
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