類別
測(cè)試和質(zhì)量
所用產(chǎn)品：LabVIEW ™ 5.1,NI-DAQ ™ 6.5.1,SQL Toolkit,Internet,Developers Toolkit,PXI ™ -8156B,PXI-6040E,PXI-6533,PXI-8420
挑戰(zhàn)：
設(shè)計(jì)一個(gè)高度自動(dòng)化的并具有良好用戶界面的產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)，用它來完成電路板的功能測(cè)試，并要求能生成基于數(shù)據(jù)庫(kù)的完整報(bào)告。
解決方案：
利用LabVIEW軟件，該測(cè)試系統(tǒng)集成了儀器控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)庫(kù)操作和報(bào)警的功能。
介紹：
V I Engineering Inc., －National Instruments的一個(gè)系統(tǒng)聯(lián)盟商，與Invensys Appliance Controls簽訂合同來幫他們開發(fā)一套電路板測(cè)試系統(tǒng)。這個(gè)系統(tǒng)具有兩個(gè)可以互相切換的測(cè)試工位，這樣就可以做到在對(duì)一個(gè)工件進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，可以將另一個(gè)卸下或裝上一個(gè)新的工件。
所有的測(cè)試步驟都是自動(dòng)的，所以操作工可以專注于手動(dòng)更換工件。具體的測(cè)試包括條形碼的確認(rèn)，串口通訊，EEPROM確認(rèn)，一個(gè)電壓測(cè)試，LED測(cè)試，UV電壓感應(yīng)電路確認(rèn)，共鳴器精度確認(rèn)，復(fù)位按鈕的測(cè)試，揚(yáng)聲器音量測(cè)試，UV燈泡電壓測(cè)試和interlock輸入測(cè)試。每個(gè)工件的所有測(cè)試結(jié)果和是否通過測(cè)試的狀態(tài)都會(huì)記錄在數(shù)據(jù)庫(kù)中。這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量板卡的所有功能以確定是否滿足質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
系統(tǒng)設(shè)計(jì)
有一個(gè)測(cè)試夾具用于安裝工件。當(dāng)工件被夾緊后，夾具上的一個(gè)開關(guān)會(huì)被使能。軟件會(huì)控制夾緊裝置并讀到開關(guān)的狀態(tài)。工件上的所有接口都采用Pogo插針，所以不用手動(dòng)的去做連接。LED用圖像傳感器來探測(cè)，揚(yáng)聲器輸出用麥克風(fēng)來測(cè)量。
測(cè)試模式
三個(gè)測(cè)試模式分別是：產(chǎn)品測(cè)試模式、質(zhì)量檢測(cè)模式和查錯(cuò)檢測(cè)模式
產(chǎn)品測(cè)試模式
這個(gè)模式用于測(cè)試新產(chǎn)品。操作工將一個(gè)板卡裝入工位1或工位2。在測(cè)試過程中操作工可以隨時(shí)停止測(cè)試。每以時(shí)刻，只有一個(gè)工位在工作。這樣設(shè)計(jì)的目的是讓一個(gè)工件進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，操作工可以卸下另一個(gè)，再裝上一個(gè)新的。在一個(gè)工位的測(cè)試結(jié)束時(shí)，如果另一個(gè)工件已正確安裝，那么測(cè)試系統(tǒng)會(huì)馬上開始測(cè)試。板卡在測(cè)試的時(shí)候，工位上的顯示屏?xí)谐霎?dāng)前進(jìn)行的測(cè)試步驟和狀態(tài)（見圖１）。如果測(cè)試失敗，測(cè)試過程會(huì)停止。當(dāng)測(cè)試結(jié)束后，所有的數(shù)據(jù)會(huì)存入數(shù)據(jù)庫(kù)。

圖１. 測(cè)試系統(tǒng)主界面
質(zhì)量檢測(cè)模式
質(zhì)量檢測(cè)模式用來對(duì)板卡進(jìn)行功能檢測(cè)并將測(cè)試結(jié)果和已存的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。這個(gè)模式的目的是對(duì)板卡進(jìn)行再次測(cè)試而不用對(duì)EEPROM做再次編程。核查員也可以確認(rèn)板卡已經(jīng)通過了所有的測(cè)試。
查錯(cuò)檢測(cè)模式
這個(gè)模式允許操作工選擇特定的測(cè)試步驟。所選的步驟可以被重復(fù)無限次或重復(fù)1到99次。這個(gè)模式主要用來查錯(cuò)。這里用到的產(chǎn)品數(shù)據(jù)庫(kù)是Microsoft Access,主要用于生成產(chǎn)品測(cè)試報(bào)告。這里的測(cè)試數(shù)據(jù)來自LabVIEW測(cè)試系統(tǒng)。微軟的Access數(shù)據(jù)庫(kù)生成的報(bào)告可以跟蹤工件的性能并為產(chǎn)品質(zhì)量的提高提供反饋。在數(shù)據(jù)庫(kù)中有四個(gè)關(guān)系型的表格，分別存儲(chǔ)了測(cè)試結(jié)果。當(dāng)用戶運(yùn)行程序，主界面（見圖２）會(huì)顯示出一些選項(xiàng)，選中后可以生成預(yù)定義的報(bào)告。

圖２. 數(shù)據(jù)庫(kù)報(bào)告生成主界面
總結(jié)
V I Engineering實(shí)現(xiàn)了一個(gè)用LabVIEW和互聯(lián)網(wǎng)開發(fā)工具包開發(fā)的基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)。這個(gè)高度自動(dòng)化的強(qiáng)大系統(tǒng)每年可以測(cè)試上百萬(wàn)的電路板，并可以跟蹤生產(chǎn)線上產(chǎn)品的性能統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，生成需要的報(bào)告。