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FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試

關鍵詞：電滯回線，疲勞Fatigue，漏電流LM，電流-偏壓

FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試是一款功能豐富的鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。

鐵電參數(shù)測試主要性能指標：

a. 外接5 kV高壓放大器；

b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ～ 1 kHz；

c. 最大電荷解析度：10 mC；

d. 疲勞測試頻率300 kHz（振幅10 Vpp，負載電容1 nF）；

e. 漏電流測量范圍 1 pA ～ 20 mA，分辨率0.1 pA；

f. 配有高壓擊穿保護模塊。

本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺（配鐵電測試盒）或高低溫探針臺（配高壓探針）、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能，主控器提供擴展外置高壓放大器接口，可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能，測試時，無需改變測試樣品的連接，即可實現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV等性能測試。

本鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法，與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)，容易定標和校準，并且能實現(xiàn)較高的測量準確度。

該系統(tǒng)測試功能：

動態(tài)電滯回線DHM

I-V特性

脈沖PUND

疲勞Fatigue

漏電流LM

電流-偏壓。