薄膜測(cè)厚儀，又稱為測(cè)厚儀、薄膜厚度檢測(cè)儀、薄膜厚度儀等，薄膜測(cè)厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。薄膜測(cè)厚儀設(shè)備用途塑料包裝材料厚度是否均勻是檢測(cè)其各項(xiàng)性能的基礎(chǔ)。包裝材料厚度不均，會(huì)影響到阻隔性、拉伸強(qiáng)度等性能；對(duì)材料厚度實(shí)施高精度控制也是確保質(zhì)量與控制成本的重要手段。薄膜測(cè)厚儀分類薄膜測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)量方式的不同，可分為：接觸式薄膜測(cè)厚儀：點(diǎn)接觸式，面接觸式。非接觸式薄膜測(cè)厚儀：射線，渦流，超聲波，紅外等注：我們所能見(jiàn)到的包裝材料實(shí)驗(yàn)室厚度測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)，包括國(guó)家標(biāo)淮，國(guó)際、美國(guó)、日本、歐洲標(biāo)準(zhǔn)等均采用機(jī)械式測(cè)厚中的面接觸測(cè)厚的方式，同時(shí)該方詳情>>
薄膜測(cè)厚儀價(jià)格
